Турецкие исследователи вошли в число лауреатов двух наград американской технологической компании Intel за достижения в области аппаратной безопасности компьютеров. Об этом сообщила пресс-служба Университета экономики и технологий TOBB (TOBB ETÜ).

Премию Test of Time Award, присуждаемую за исследования, сохраняющие научную значимость спустя не менее десяти лет после публикации, получила работа 2014 года Flipping Bits in Memory Without Accessing Them (Переключение битов в памяти без доступа к ним).

Среди ее авторов — турецкий ученый, профессор Онур Мутлу. Исследование впервые продемонстрировало уязвимость RowHammer, позволяющую изменять содержимое ячеек оперативной памяти путем многократного обращения к соседним строкам. Уязвимость была выявлена более чем в 80% протестированных модулей памяти трех крупнейших мировых производителей.

Вторую награду, Recent Publication Award, получила работа Chronus, посвященная анализу и совершенствованию современных механизмов защиты памяти DRAM от подобных атак.

Семеро из девяти авторов исследования — турецкие специалисты. Пятеро из них проходили подготовку в Университете TOBB ETÜ под руководством профессора Огуза Эргина.

Награду от имени исследовательской группы на церемонии получил Гирай Яглыкчы.